詳情
BGA封裝測(cè)試治具:
BGA封裝測(cè)試治具主要用途:芯片的來(lái)料檢測(cè),返修檢測(cè).
我們根據(jù)不同規(guī)格的芯片和種類(lèi)的產(chǎn)品,從動(dòng)作結(jié)構(gòu)和連接方式上設(shè)計(jì)了不同類(lèi)型的治具以供選擇。
治具結(jié)構(gòu)類(lèi)型
1.翻蓋式
適用的產(chǎn)品類(lèi)型:尺寸小的PCB板,如手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)、MP3/MP4等產(chǎn)品。
適用的芯片類(lèi)型:封裝尺寸20*20mm以下,球數(shù)在300pin內(nèi)的產(chǎn)品。
2.夾手式
適用的產(chǎn)品類(lèi)型:尺寸中等和外接端口較多的PCB板,如網(wǎng)絡(luò)路郵器、數(shù)碼相機(jī)、MP3/MP4等產(chǎn)品。
適用的芯片類(lèi)型:封裝尺寸30*30mm以下,球數(shù)在300pin內(nèi)的產(chǎn)品。
3.旋壓式
適用的產(chǎn)品類(lèi)型:PCB板尺寸和芯片尺寸較大的產(chǎn)品,如電腦主板,游戲機(jī),打印機(jī)等產(chǎn)品。
適用的芯片類(lèi)型:封裝尺寸30*30mm以上,球數(shù)在500pin以上的產(chǎn)品。
治具連接方式
1.pogo pin連接
優(yōu)點(diǎn):維修時(shí)主板拆換方便快捷,探針長(zhǎng)度較短,最大的減少針間信號(hào)的串?dāng)_,可用作高頻信號(hào)點(diǎn)的測(cè)試。
缺點(diǎn):成本較高,針頭彈力、刺穿能力較弱,針盤(pán)結(jié)構(gòu)在待測(cè)的主板尺寸太大時(shí)需有輔助定位孔、緊固螺絲孔。
2.轉(zhuǎn)接針焊接型
優(yōu)點(diǎn):成本較低,特別適合大尺寸且沒(méi)有緊固螺絲孔、定位孔的PCB板和點(diǎn)數(shù)較多、尺寸較大的芯片。
缺點(diǎn):維修時(shí)交換主板需要專(zhuān)用返修工具,轉(zhuǎn)接針盤(pán)循環(huán)焊接最多2-3次即要報(bào)廢更新。
制作精度
可制作的球距從1.27mm-1.0mm-0.8mm-0.65mm-0.5mm-0.4mmpitch
作用一:來(lái)料檢測(cè);采購(gòu)回來(lái)的IC在使用前有時(shí)會(huì)進(jìn)行品質(zhì)檢驗(yàn),挑出不良品,從而提高SMT的良品率。IC的品質(zhì)光憑肉眼是看不出來(lái)的,必須通過(guò)加電檢測(cè),用常用的方法檢測(cè)IC的電流、電壓、電感、電阻、電容也不能完全判斷IC的好壞;通過(guò)IC測(cè)試夾具應(yīng)用功能跑程序,可以判斷IC的好壞。
作用二:返修檢測(cè);有時(shí)生產(chǎn)過(guò)程中主板出了問(wèn)題,倒底是哪里出了問(wèn)題?不好判斷!有了IC測(cè)試治具什么都好說(shuō),把拆下的IC放到測(cè)試座內(nèi)通過(guò)測(cè)試就能排除是否IC方面的原因;
作用三:IC分檢;返修的IC,在拆下的過(guò)程有可能損壞,用IC測(cè)試治具可以將壞的IC分檢出來(lái),可以節(jié)省很多人力、物力,從而減小各項(xiàng)成本。拿BGA封裝的IC來(lái)說(shuō),如果IC沒(méi)有分檢,壞的IC 貼上經(jīng)過(guò)FCT測(cè)試檢查出來(lái)后,把IC拆下來(lái),要烘烤、清洗,很麻煩,還有可能損壞相關(guān)器件。用IC測(cè)試夾具檢測(cè)就可以大減少出現(xiàn)上述問(wèn)題的機(jī)率。
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